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第七届国际测试仪器及应用技术大会

第七届国际测试仪器及应用技术大会

时间:2016-05-12 09:30:00 至 2016-05-12 15:30:00结束
地点:北京 中国国际展览中心(老馆) 朝阳区北三环东路6号
会议规模:300人

发布时间:2016-04-14 15:38:59

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会议通知
Meeting notice

第七届国际测试仪器及应用技术大会将于2016年5月12日北京中国国际展览中心(老馆)召开。

国际测试仪器应用技术大会主题方向:

1、高频无线信号的捕获与分析;

2、LTE及MIMO信号的测试方案;

3、毫米波微波信号的特点及测试技巧;

4、高可靠性的测试系统方案和测试技巧;

5、复杂自动化测试的架设和应用;

6、高频无线信号的捕获和分析;

部分演讲内容:

1、新时代,新视界,是德科技引领军工电子测试新趋势;

2、R&S新一代脉冲相位噪声测试方法;

3、军用测试测量技术的发展与应用;

4、直流电源输出阻抗和负载输入阻抗测量方法;

5、频率标准和时间间隔校准测量方法。

会议名称:第七届国际测试仪器及应用技术大会

会议时间:2016年5月12日

会议地点:北京中国国际展览中心(老馆)


标签: 工业技术 测试仪器

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