2014嵌入式测试与量测技术巡回研讨会(上海）已截止报名

会议时间： 2014-06-26 08:00至 2014-06-26 18:00结束

会议地点：北京详细地址会前通知周边酒店预订

主办单位：

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研华科技，2014年6月 ——嵌入式测试测量技术，以敏捷开发和智能监诊技术提升生产测试效能。

研华「嵌入式测试测量软件开发与智能监诊趋势论坛」，专注于软件开发、系统集成、项目规划，以嵌入式测试&测量技术，推动物联网下智能应用的新发展。研华将于2014年6月在北京、上海、深圳三大中心城市举办盛大的巡回研讨会，诚邀业界菁英拨冗参加，期待您的加入！

对于投身制造行业的您，无论是专注于软件开发、系统集成、亦或项目规划，都需了解，在物联网架构下，嵌入式测试测量技术已成为智能应用的利器，并可有效促进制造系统的智能化。如何运用该技术进行设备监诊及预防保养以提高机台生产效能；在测试测量软件开发方面，又有怎样的新发展……在这次论坛上，我们将与您一起深入地探讨和分享。

时间		主题
13:30-13:40	10分钟	致欢迎词
13:40-14:20	40分钟	.NET Framework的最新发展及未来趋势&运用敏捷开发法 SCRUM 进行项目规划
14:200-15:00	40分钟	在.NETFramework下快速开发量测自动化系统 DAQNavi研华新世代量测开发工具
15:00-15:20	20分钟	中场休息与摊位展示 (包括SI摊位)
15:20-16:10	50分钟	制造业创新服务之智能监控及故障预防应用趋势商机
16:10-16:50	40分钟	研华嵌入式测试与测量解决方案
16:50-17:05	15分钟	现场交流与有奖征答活动