NIDays2015全球图形化系统设计盛会

【精彩看点】

主题演讲近千名工程师与研发人员的现场参与，向您全方位展示图形化系统设计的优势，以及众多本地客户在不同应用领域的成功案例，同时，我们还将隆重发布数款重要产品，包括行业领先的高性能嵌入式控制系统以及高级嵌入式监测系统等。

IoT高峰论坛

另设IoT高峰论坛，邀请来自高校、协会、赞助商、媒体等领域的顶尖专家学者，将从不同角度阐述IoT的前沿技术，与您交流互动。

最新产品及应用展示

主题展示区：10余个极具科技感和互动性的应用演示。

工业应用区：30余个最新最热门的工业应用展示，结合NI强大的合作伙伴生态系统和典型客户成功案例，阐述了NI在IoT产业中通用测量、自动化测试、工业控制与状态监测的平台化解决方案，涵盖了汽车、航空航天、半导体测试、射频与无线通信等重要领域。

客户服务区：可靠的产品售后维护、专业的现场技术咨询、优化的客户培训课程。

行业专题演讲

20篇专家演讲，涵盖工业控制与状态监测、自动化测试与测量、射频与无线通信、LabVIEW4个专题。

动手课程及CLAD报考优惠

基于PXI和CompactRIO产品的动手课程。报名CLAD现场考试享2折特惠，通过者更可免费获得报考CLD资格。

时间：2015年11月12日，8:00-17:30

地点：中国，上海国际会议中心(上海浦东新区滨江大道2727号)