颗粒、粉体、膜（P3）的 分析与表征研讨会2019（上海）

【会议内容】

会议简介

互联网+、材料基因组计划、增材制造等新技术新模式蓬勃兴起，国际竞争日趋激烈，材料发展创新步伐持续加快。随着人类对材料的性能与微观结构的研究与认识，人们不断挖掘材料性能的本质，并通过新工艺、新技术、新设备，不断创造出各种性能更好的新型材料。

材料性能的表征方式包括粒度、粒形、孔结构、粉末流动性等。大部分固体材料均是由各种形状不同的颗粒构造而成，因此，细微颗粒材料的形状和大小等特性对材料结构和性能有着深远的影响。

材料表征领域的领导者Micromeritics麦克仪器公司将主办《颗粒、粉体、膜（P3）的分析与表征技术研讨会》，分享国际领先的材料表征技术及实际应用，为用户的材料分析与表征提供完整性解决方案。诚挚邀请您出席本次研讨会！

会议概况

日期：2019年9月19日   

时间：9：30-16：30 （签到：8：30-9：30）

地点：上海大华锦绣假日酒店

费用：免费

参会对象：  企业负责人、生产部负责人、设备部负责人、质量部负责人、 工程部负责人、研发部负责人

【会议日程】

议程：

颗粒、粉体、膜的特性与综述；

颗粒粒度分析：电阻法，X沉降法与亚筛分法

颗粒形态分析：动态图像法

颗粒粉体分析的样品制备：取样，缩样与分散

孔径分析：气液与液液孔径分析方法

粉体流动性分析

【会议门票】

免费参与